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| 是否进口：否 | 产地：无锡 | 加工定制：否 |
| 品牌：赛默斐视 | 型号：SIMV | 订货号：22222 |
| 货号：22222 | 测量范围：薄膜表面的瑕疵缺陷 | 测量精度：0.1mm |
| 尺寸：11mm | 重量：11kg | 是否跨境货源：是 |
| 主要下游平台：其他 | 主要销售地区：东南亚 | 有可授权的自有品牌：是 |
产品介绍：薄膜瑕疵在线检测系统
产品信息：
品种：SIMV
品牌：赛默斐视
等级：1
产地：无锡
检测速度：Max:800m/min
检测幅宽：任意
产品现场工作图片：
现场工作人员指导：
薄膜瑕疵检测系统工作原理：
系统采用透射的打光检测方式进行检测，即光源在薄膜的下方，相机在薄膜的上方进行图像拍摄（对于不透明的材料则采用反射的打光方式，即光源与相机在所要检测面的同一侧）。产线运行时，系统通过编码器实时的采集产线运行状态信息并开始检测，系统将相机采集到的图像通过SIMV图像分析软件进行瑕疵处理，由于瑕疵与正常产品的图像在灰阶上存在明显差异，从而使得系统能够发现瑕疵，并通过进一步的计算、分析来确定瑕疵的大小、位置、类型等信息。
