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| 是否进口：否 | 产地：无锡 | 加工定制：是 |
| 品牌：赛默斐视 | 型号：SIMV | 订货号：2222 |
| 货号：2222 | 测量范围：0.1mm以上污点、瑕疵 | 测量精度：0.1mm |
| 尺寸：10mm | 重量：10kg | 是否跨境货源：是 |
| 主要下游平台：其他 | 主要销售地区：东南亚 | 有可授权的自有品牌：是 |
如今企业对薄膜的质量要求越来越高，传统的人工肉眼检测无法满足产品在高速生产时进行在线检测，而且检测精度低、易于疲劳，容易造成漏检及成本的提高，因此表面瑕疵在线检测系统得到快速发展，薄膜表面瑕疵检测系统能够完全代替人工进行7*24小时实时在线的表面质量控制，***减少了材料的浪费、增加了产能、节约了人工成本、提高了产品质量。
薄膜表面瑕疵检测系统检测原理：
系统整体采用工业CCD相机在线图像扫描的工作原理，在生产线高速生产的状态下，采用特定波长的高亮LED工业线性聚光光源照射产品表面（对于不透明的薄膜产品采用反射的检测原理），同时通过工业CCD相机实时扫描并采集光源照射处的产品图像。
系统将相机采集到的薄膜图像经过SIMV图像软件算法进行瑕疵识别处理。由于瑕疵的成像图片与正常产品的成像图片存在灰阶差异，从而使的系统能够精准发现产品的缺陷；同时根据事先采集各类瑕疵的图像特征并记录缺陷库，从而实现了瑕疵的在线检测、分类与后续处置。
